Seminario organizado por el Capítulo Estudiantil IIM-SMM, impartido por el Dr. José Reyes Gasga del Instituto de Física de la UNAM, el cual explica algunos fundamentos de la microscopía electrónica de transmisión (MET) a manera de introducción, para después exponer puntos clave en la obtención e interpretación de resultados a partir de dicha técnica, por ejemplo, parámetros de análisis, efecto de las aberraciones, rol del técnico que realiza el análisis, tipos de señal empleadas, resolución y otras condiciones inherentes al equipo empleado. Este tema es de suma relevancia en diversas ramas de la Ciencia e Ingeniería de Materiales, como son materiales poliméricos, semiconductores, metálicos, cerámicos, etc.
El Dr. Reyes también menciona algunas de las técnicas para la preparación de muestras de distintos tipos de materiales previo al análisis en MET, así como la importancia de este paso. Por último, se resuelven las interrogantes de los asistentes al seminario y se recomienda bibliográfica de la autoría del Dr. Reyes relativa a las dudas en cuestión.
El Capítulo Estudiantil del Instituto de Investigaciones en Materiales y la Sociedad Mexicana de Materiales (IIM-SMM) es una organización estudiantil que busca fomentar las labores de investigación, difusión y vinculación de estudiantes y académicos en el área de Ciencia e Ingeniería de Materiales. El Capítulo Estudiantil IIM-SMM está ubicado en el IIM de la Universidad Nacional Autónoma de México (UNAM), Ciudad Universitaria, y sus eventos están abiertos a la comunidad científica de todas las universidades locales y nacionales y de todos los niveles educativos.
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